TESCAN VEGA’nın 4. nesil tungsten filaman elektron kaynaklı Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), SEM görüntüleme ve canlı elementel kompozisyon analizini, TESCAN Essence™ yazılımı sayesinde tek bir pencerede birleştirir. Bu birleşim, örnekten hem morfolojik ve hem de elementel verilerin alınmasını önemli ölçüde basitleştirerek VEGA SEM'i kalite kontrol, hasar analizi ve araştırma laboratuvarlarında rutin malzeme incelemesi için etkili bir analitik çözüm haline getirir.
- SEM görüntülemeyi elementel kompozisyon analizi ile tek bir Essence™ yazılım penceresinde verimli bir şekilde birleştiren, tam entegre TESCAN Essence™ EDS içeren analitik platform.
- TESCAN’ın In-flight Beam Tracing ™ özelliğine sahip benzersiz diyaframsız optik tasarımı sayesinde, optimum görüntüleme ve analitik koşullar anında sağlanır.
- Benzersiz Wide Field Optics™ tasarımı sayesinde, ek bir optik navigasyon kamerasına ihtiyaç duymadan, 2x gibi düşük büyütmelerde numunede zahmetsiz ve hassas SEM navigasyonu.
- Şarj ve elektron demetine duyarlı numuneleri gözlemlemek için standart bir özellik olarak SingleVac™ modu.
- Kullanıcının deneyim düzeyinden bağımsız olarak zahmetsiz kullanım için tasarlanmış sezgisel ve modüler Essence™ yazılımı.
- Tutucu ve numune hareket halindeyken örnek odasına monte dedektörlerin güvenliği, Essence™ 3D Çarpışma modeliyle garanti edilir.
- Düşük hızlandırma gerilimlerinde görüntüleme performansını arttırmak için Beam Deceleration Teknolojisi de dahil olmak üzere isteğe bağlı kolon içi SE ve BSE dedektörleri mevcuttur.
- İsteğe bağlı olarak en kapsamlı tam entegre dedektör seçenekleriyle donatılabilen modüler analitik platform (örn. CL, su soğutmalı BSE veya RAMAN spektrometresi).
