TESCAN MIRA’nın 4. nesil Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ve FEG Schottky elektron emisyon kaynağı, SEM görüntüleme ve canlı elementel kompozisyon analizini TESCAN’ın Essence™ yazılımının tek bir penceresinde birleştirir. Bu birleşim, numuneden morfolojik ve elementel verilerin alınmasını önemli ölçüde basitleştirerek MIRA SEM'i; kalite kontrol, hasar analizi ve araştırma laboratuvarlarında rutin malzeme incelemesi için etkili bir analitik çözüm haline getirir.
- SEM görüntülemeyi temel kompozisyon analizi ile tek bir Essence™ yazılım penceresinde verimli bir şekilde birleştiren, tam entegre TESCAN Essence™ EDS içeren analitik platform.
- TESCAN’ın In-flight Beam Tracing™ özelliğine sahip benzeri olmayan diyaframsız optik tasarımı sayesinde, optimum görüntüleme ve analitik koşullar anında kullanılabilir.
- Benzersiz Wide Field Optics™ tasarımı sayesinde ek bir optik navigasyon kamerasına ihtiyaç duymadan; 2x kadar düşük büyütmelerde numunede zahmetsiz ve hassas SEM navigasyonu.
- Şarj ve demete duyarlı numuneleri gözlemlemek için, standart bir özellik olarak SingleVac™ modu.
- Kullanıcının deneyim düzeyinden bağımsız olarak zahmetsiz kullanım için tasarlanmış sezgisel ve modüler Essence™ yazılımı.
- Tutucu ve numune hareket halindeyken örnek odasına monte dedektörlerin güvenliği, Essence™ 3D Çarpışma modeliyle garanti edilir.
- Düşük hızlandırma gerilimlerinde görüntüleme performansını artırmak için Beam Deceleration teknolojisini de içeren isteğe bağlı kolon içi SE ve BSE dedektörler hazırdır.
- İsteğe bağlı olarak en kapsamlı tam entegre dedektör seçenekleriyle donatılabilen modüler analitik platform (örn. CL, su soğutmalı BSE veya RAMAN spektrometresi).
