Etkinlikler | Yeni nesil TESCAN CLARA ile tanışın: Herhangi bir malzemenin hızlı, doğru ve kapsamlı nano ölçekli yüzey analizi için UHR SEM

Malzeme biliminde, tüm büyütme ölçeğinde malzemelerden elde edilen veriler, güvenilir kararlar için çok önemli bilgiler sağlar. Günlük hayatımızın kalitesini artırmak için en geniş malzeme yelpazesi geliştirilmekte olup, genellikle nano ölçekte özel rolünü oynamak üzere kasıtlı olarak tasarlanmış yapılarla geliştirilmektedir.  Gerilmelere maruz kalan metaller, büyük ölçüde mikron ve mikron altı fazlarına ve yapılarına dayanır. Kimyasal bileşimleri ve boyutları, metallerin mekanik performansında kritik rol oynar. Ek olarak, genel malzeme özelliklerini geliştirmek için, nano ölçek gerektiren şekil ve boyut analizinde çeşitli nano lifler, nanotüpler ve diğer nano yapılar uygulanır. Son olarak, katot ve anot tozları gibi enerji malzemelerindeki bozulma süreçleri ve kimyasal fazlar, acil sorunları ele almak ve fosilsiz bir gelecek sağlamak için nano ölçekte incelenmektedir. Bu ve diğer birçok konu, birçok malzemenin kalitesi, arızanın temel nedeni veya nihai performansı hakkında zamanında karar verilmesine olanak tanıyan kapsamlı, net ve güvenilir veriler sağlayan araçlar olarak ultra yüksek çözünürlüklü taramalı elektron mikroskoplarının (UHR SEM'ler) kullanılmasını gerektirmektedir. TESCAN, TESCAN CLARA UHR SEM'i, yukarıda belirtilen zorlukları ele alan ve UHR SEM karakterizasyonunu herhangi bir laboratuvarda kullanılabilir hale getiren bir çözüm olarak sunuyor. Bu UHR SEM, önceden numune hazırlamadan herhangi bir malzemenin kapsamlı kontrast karakterizasyonunu sağlamak için kullanılabilen eşsiz sayıda kontrast yöntemi sağlar. Ek olarak, çok yönlülüğü ve açık erişim yapısı, malzeme karakterizasyonu potansiyelini elektron kontrastlı görüntülemenin ötesine genişletmek için çeşitli karakterizasyon tekniklerini benimsemek üzere tasarlanmıştır. Bu web seminerinde, TESCAN CLARA UHR SEM'in nano ölçekte ana karakterizasyon zorluklarını nasıl çözebileceğini göstereceğiz. TESCAN CLARA'nın arıza analizi, malzeme araştırması ve pil araştırması için farklı durumları çözmek için nasıl kullanılabileceğini göstereceğiz.